沿革

1874
  • エルンスト アッベが最初の分光計を開発

 

 1924
  • プルフリヒが分光分析の基礎を築いた世界最初の分光光度計を開発
First flame photometer

最初の炎光光度計

 1937
  • カール ツァイスがフレームフォトメトリーの方法論を確立し、世界最初の炎光光度計を開発
Electrolytic unit

クーロメトリー分析用の電解質測定ユニットを開発

 1945
  • 元素分析や滴定分析のスタートとなる最初の装置を開発製造
First SPEKOL

最初のSPEKOL分光光度計

 1963
  • プルフリヒが分光光度計の技術を継承し、SPEKOL® および SPECORD® で分光分析技術が飛躍的に向上
First AAS

最初の原子吸光分析装置

 1971
  • カール ツァイス イエナ社が最初の原子吸光分析装置を発売開始

 
First TOC analyzer

最初の TOC 分析装置

 1991
  • multi N/C® シリーズ– 最初のTOC計、TOC/TN分析装置を全世界で販売開始


1997
  • 原子吸光で最初の完全自動固体サンプルシステム

First multi EA

multi EA®元素分析装置

2002
  • 多様な試料様態に対応する革新的なダブルファーネス燃焼法、および元素分析装置multi EA®シリーズを発表。
contrAA

contrAA®

 2004
  • 原子吸光分析に革命をもたらしたと言われる世界初の連続光源を搭載した高分解能原子吸光分析装置contrAA® を開発

 

mulitEA 5000

新世代multi EA® 元素分析装置

 2008
  • multi EA® シリーズを開発。1台で液体・ペースト・気体サンプル内の炭素･窒素･硫黄・塩素分析と、TOC, EOX またはAOX/TOXの分析が可能な新世代元素分析装置。